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Akrometrix 熱翹曲形變檢測儀 AXP2.0

Akrometrix AXP 2.0是一種模塊化計量解決方案，它利用Shadow Moiré 測量技術結合自動相位步進來表征最大 400 mm x 400 mm 的樣品的翹曲形變。TherMoiré ? AXP 2.0具有時間-溫度曲線分析功能，可在用戶定義的熱曲線期間捕獲樣品行為的完整歷史記錄。

可用于各種實驗室和生產車間應用：

1、故障/缺陷分析

2、質量保證/質量控制

3、零件跟蹤技術支持大批量測試

4、通過/失敗決策與行業標準，通過實時分析軟件簡化

5、通過界面分析軟件進行連接界面之間的形狀匹配

6、材料和設計選擇

7、使用 DFP2 表征局部特征和臺階高度

8、FEA 模型驗證

特點：

1、由 Akrometrix Studio 軟件提供支持

2、最大樣品尺寸可達 400 mm x 400 mm

3、在不到 2 秒的時間內采集 170 萬個位移數據點

4、利用頂部和底部 IR 加熱器提高溫度均勻性

5、小尺寸樣品的高分辨率測量

6、XY 軸應變和 CTE 計算，通過 DIC

7、通過先進的動力冷卻提高實驗室生產力

8、通過子房間模塊支持從 150°C 到 -55°C 的可靠性測試和到 280°C+ 的回流模擬

9、多部件測試以提高吞吐量

規格參數：

視覺測量技術	AXP底座，100LPI光柵	200 lpi光柵	300 lpi光柵
最大視場(FOV) (mm)	影子波紋	影子波紋	影子波紋
最小視場(FOV) (mm)	375x375	375x375	250 x250
最大樣本量(毫米)	348 x260	232x173	116x87
最小樣本量(毫米)	400 x400	400 x400	250 x250
最大測量面共面度	6 x6	4x4	2 x2
視覺測量技術	4000微米	1000微米	250微米
分辨率，z軸(垂直位移)	2.5微米	1.25微米	0.85micons
精度，z軸(垂直位移)	2.5微米/ 3%	1.25微米/ 3%	0.85微米 / 3%
分辨率，xy軸(水平位移)	N/A	N/A	N/A
應變分辨率	N/A	N/A	N/A
每次采集的最大測量點	1,447,680	1,447,680	1,447,680
最大測量密度(點每毫米²)	16	64	144
最小測量密度(點每毫米²)	7	7	18
熱處理技術	輻射IR	輻射IR	輻射IR
最大加熱速率，50°C到250°C(°C/s)*	3.5	3.5	3.5
最大冷卻速率，250°C到125°C(°C/sec)*	2.25	2.25	2.25
最高溫度(°C)	300	300	300
周期時間25°C ~ 250°C ~ 25°C(分鐘)*	10	10	10
最大熱配置文件	無限的	無限的	無限的
最大熱循環時間	無限的	無限的	無限的
每周期最大采購量	無限的	無限的	無限的
自動數據收集	是	是	是
批處理數據分析	是	是	是
軟件	Akrometrix Studio 8.1或更高版本	Akrometrix Studio 8.1或更高版本	Akrometrix Studio 8.1或更高版本
數據導出格式	txt, .dat . png	txt, .dat . png	txt, .dat . png
典型的樣品設置時間	2分鐘	2分鐘	2分鐘
樣品制備方法，典型	沒有一個	白漆	白漆
數據采集(測量)時間，近似	2秒	2秒	2秒
數據分析時間每采集，大致	2秒	2秒	2秒
約長、寬、高(mm)	1280x970x1780	1280x970x1780	1280x970x1780
Appromixate重量(公斤)	575	575	575
電力需求	220VAC, 3相，45A	220VAC, 3相，45A	220VAC, 3相，45A
空氣的要求	N/A	N/A	N/A
其他實用程序	排氣14286 lpm	排氣14286 lpm	排氣14286 lpm